2022-07-13 14:12:47 long8官网登录入口
表面質量檢測⒔⒕⒖⒗⒘⒙⒚⒛ⅠⅡⅢⅣⅤⅥⅦⅧⅨⅩⅪⅫⅰⅱ，對于工業品質量控制有著極為重要的意義☧☬☸✡♁✙♆。，、＇：∶；，也是公司視覺與圖像系統事業部多年來專注和聚焦的戰略方向☈⊙☉℃℉❅。對于表面質量檢測⒃⒄⒅⒆⒇⒈⒉⒊⒋⒌⒍⒎⒏⒐⒑⒒⒓，大量的缺陷其物理表現都是表面圖案的改變⒜⒝⒞⒟⒠⒡⒢⒣⒤，如印刷品的疵點㈧㈨㈩⑴⑵⑶⑷⑸⑹⑺⑻⑼⑽⑾⑿⒀⒁⒂、PCB的短路斷路ⒺⒻⒼⒽⒾⒿⓀⓁⓂⓃⓄⓅⓆⓇⓈⓉ、LCD屏的色斑輝點⒃⒄⒅⒆⒇⒈⒉⒊⒋⒌⒍⒎⒏⒐⒑⒒⒓，檢測這些缺陷最經典的方法是通過拍攝的表面圖像進行分析✤✥❋✦✧✩✰✪✫✬✭✮✯❂✡★✱✲✳✴。這種通過平面圖像信息進行缺陷判定是傳統表面質量視覺檢測技術的方法웃유ღ♋♂。但是㈧㈨㈩⑴⑵⑶⑷⑸⑹⑺⑻⑼⑽⑾⑿⒀⒁⒂，僅僅局限于二維信息進行質量分析㈠㈡㈢㈣㈤㈥㈦，并不能完全滿足產品⒜⒝⒞⒟⒠⒡⒢⒣⒤、工藝的檢測要求⒜⒝⒞⒟⒠⒡⒢⒣⒤。在工業品表面質量檢測中❻❼❽❾❿⓫⓬⓭⓮⓯⓰，存在一些對3D信息要求的典型應用場景：①表面質量檢測中✺ϟ☇♤♧♡♢♠♣♥，有一類缺陷是在深度上的變化ⒺⒻⒼⒽⒾⒿⓀⓁⓂⓃⓄⓅⓆⓇⓈⓉ，如印刷品的劃傷⒃⒄⒅⒆⒇⒈⒉⒊⒋⒌⒍⒎⒏⒐⒑⒒⒓、電子產品的表面劃痕☧☬☸✡♁✙♆。，、＇：∶；、PCB的導線凹陷等等☾☽❄☃，而PCB的多銅(短路✵✶✷✸✹✺✻✼❄❅、銅渣等)和缺銅(斷路⒃⒄⒅⒆⒇⒈⒉⒊⒋⒌⒍⒎⒏⒐⒑⒒⒓、針孔❋❀⚘☑✓✔√☐☒✗✘ㄨ✕✖✖⋆✢✣、缺口等)其實也是在深度上有變化☧☬☸✡♁✙♆。，、＇：∶；。對于深度缺陷♀☿☼☀☁☂☄，一類檢測方式是通過光源的設計㊀㊁㊂㊃㊄㊅㊆㊇㊈㊉，增強或削弱其在圖像中表現ⓊⓋⓌⓍⓎⓏⓐⓑⓒⓓⓔⓕⓖⓗⓘⓙ，這樣將后序的處理納入傳統表面圖像檢測的流程㈧㈨㈩⑴⑵⑶⑷⑸⑹⑺⑻⑼⑽⑾⑿⒀⒁⒂。一類方法是設法測得深度變化的具體值❋❀⚘☑✓✔√☐☒✗✘ㄨ✕✖✖⋆✢✣，即進行表面深度測量;
在某些質量檢測場合⓱⓲⓳⓴⓵⓶⓷⓸⓹⓺⓻⓼⓽⓾，產品表面的3D形狀尺寸本身就是質量判決的要求和依據☧☬☸✡♁✙♆。，、＇：∶；。典型的如表面貼裝✤✥❋✦✧✩✰✪✫✬✭✮✯❂✡★✱✲✳✴、錫膏厚度✵✶✷✸✹✺✻✼❄❅、產品外觀裝配尺寸等;
有時候我們需要深度信息來幫助判斷✵✶✷✸✹✺✻✼❄❅，最典型的是LCD檢測中㊀㊁㊂㊃㊄㊅㊆㊇㊈㊉，隔著0.2mm~0.7mm的玻璃☈⊙☉℃℉❅，在其上的是可以清除的灰塵ⓣⓤⓥⓦⓧⓨⓩ，在其下的是真實缺陷⒥⒦⒧⒨⒩⒪⒫⒬⒭⒮⒯⒰⒱⒲⒳⒴⒵❆❇❈❉❊†☨✞✝☥☦☓☩☯。
盡管有大量的三維測量方法和成熟產品⒥⒦⒧⒨⒩⒪⒫⒬⒭⒮⒯⒰⒱⒲⒳⒴⒵❆❇❈❉❊†☨✞✝☥☦☓☩☯，但在表面檢測應用中☈⊙☉℃℉❅，受精度要求和應用條件的限制㊀㊁㊂㊃㊄㊅㊆㊇㊈㊉，仍不存在完全令人滿意的方法❻❼❽❾❿⓫⓬⓭⓮⓯⓰，需要根據具體情況進行選擇ⓊⓋⓌⓍⓎⓏⓐⓑⓒⓓⓔⓕⓖⓗⓘⓙ。表面檢測應用對于三維測量技術最大的挑戰表現在精度☧☬☸✡♁✙♆。，、＇：∶；、速度和表面特性的影響ⓣⓤⓥⓦⓧⓨⓩ。共焦法精度高ⓚⓛⓜⓝⓞⓟⓠⓡⓢ，但基本只能用于單點測量和核查ⒺⒻⒼⒽⒾⒿⓀⓁⓂⓃⓄⓅⓆⓇⓈⓉ。結構光和多目視覺的方法面臨的最大困擾是被測對象表面特性的影響㈧㈨㈩⑴⑵⑶⑷⑸⑹⑺⑻⑼⑽⑾⑿⒀⒁⒂，如拋光/鏡面易令結構光法失效ⓣⓤⓥⓦⓧⓨⓩ，而許多被測產品表面可做為匹配點的紋理匱乏則令雙目♀☿☼☀☁☂☄、多目設備無法工作ⓚⓛⓜⓝⓞⓟⓠⓡⓢ。從精度來說⒃⒄⒅⒆⒇⒈⒉⒊⒋⒌⒍⒎⒏⒐⒑⒒⒓，不同的技術存在著理論和工程上限ⓊⓋⓌⓍⓎⓏⓐⓑⓒⓓⓔⓕⓖⓗⓘⓙ。下圖表示了目前幾種典型的非接觸測量方法的精度范圍❻❼❽❾❿⓫⓬⓭⓮⓯⓰。
基于三維測量和基于三維信息分析的表面質量檢測技術ⅲⅳⅴⅵⅶⅷⅸⅹⒶⒷⒸⒹ，是對于傳統表面質量視覺檢測的重要補充웃유ღ♋♂，并將成為表面質量檢測的重要方向ⅲⅳⅴⅵⅶⅷⅸⅹⒶⒷⒸⒹ。目前仍不存在滿足各種表面檢測要求的通用三維測量技術☈⊙☉℃℉❅。充分應用三維測量技術和器件發展的成果㊀㊁㊂㊃㊄㊅㊆㊇㊈㊉，并基于應用要求和工藝特點✵✶✷✸✹✺✻✼❄❅，改進和發展相關技術ⓊⓋⓌⓍⓎⓏⓐⓑⓒⓓⓔⓕⓖⓗⓘⓙ，將滿足日益發展的檢測要求☈⊙☉℃℉❅，有可能極大提升視覺質量檢測儀的性能✵✶✷✸✹✺✻✼❄❅，甚至形成代差性的競爭優勢ⓊⓋⓌⓍⓎⓏⓐⓑⓒⓓⓔⓕⓖⓗⓘⓙ，應做為表面檢測領域必須高度重視的技術方向♀☿☼☀☁☂☄。
